储能逆变器由多个igbt模块组成，根据 igbt 在电力电子变流装置中的故障类型，可以以将 igbt 故障分为 2 类，即突发故障和老化故障。老化故障过程缓慢且不易察觉，因此，试验室需要进行加速老化试验，提前发现问题，做出改善。

下面，我们对使用不同igbt模块组成的逆变器做加速老化试验研究，下面是研究的主要内容。

储能逆变器老化试验验证：

试验设备：环仪仪器 储能逆变器老化试验柜

逆变器igbt模块：ff600r12me4、ff450r12me4、ff300r12me4、ff225r12me4p

试验过程：

储能逆变器加速老化试验选用 6 个编号为 t1~t6 的 igbt，在试验期间实时收集关键电气参数，直到器件失效。为保证试验时温度的一致性，将加速老化试验储能逆变器放入老化试验柜中进行试验。试验后，不同模块的储能逆变器结果如下所示。

表1. ff600r12me4

表2. ff450r12me4

表3. ff300r12me4

表4. ff225r12me4p

试验结果分析：

表 1~ 表 3 试验结果表明， 当老化试验柜温度为 10 ℃时，vce-sat 初始值在 1.75 v 附近， 并最终在 2.03 v 附近失效 ； 当老化试验柜温度为 40 ℃时， vce-sat 初始值在 2.00 v 附近， 并最终在 2.32 v 附近失效。

表 4 试验结果表明，当老化试验柜温度为 10 ℃时， vce-sat初始值在 1.85 v 附近， 并最终在 2.15 v 附近失效 ； 当老化试验柜温度为 40 ℃时， vce-sat 初始值在 2.10 v 附近， 并最终在2.44 v 附近失效。

试验总结：

试验结果表明， 在芯片温度波动范围较大的情况下， 其老化周期相对较短， 老化速度相对较快； 当结温tj 较大时， 对应的 igbt 循环周期变短， 寿命也变短。 原因是温度越高， 芯片所受热应力越强， 导致铝线键合线发生脱落、 焊料层开裂现象发生概率增加， 并且随着功率循环周期增加， vce-sat 也逐渐升至临界值。 试验期间实时收集关键电气参数， 直到器件失效。

以上就是储能逆变器老化试验研究，如有试验疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。