led高温寿命老化系统主要用于led的高温老化实验验证，由于led使用的环境和条件各不相同，因此led灯珠在封装完成后，都需要进行可靠性实验来验证其性能能否具备，在评估led灯珠性能时，寿命测试是其重要的环节。

技术参数：

老化原理：

1.将焊接好的led灯珠焊接到pcb基座上，然后用导线将多个pcb基座串联或并联在一起，然后通上额定电压并置于led高温寿命老化系统中，如下图所示。

2.设定一定的温度，让其进行高温灯珠老化。

3.老化到相应时间后，查看是否有死灯情况，并对老化后的每颗led灯珠进行光通量、色温、电压等参数的测量，对比测试数据来评估led灯珠性能的好坏。

实验方法：

1.北美体系

lm-80 和tm-21两个标准的要求总结如下：

适用范围：led封装、模块、阵列等;

考察对象：只考察光通维持寿命，即缓变失效因素

老化温度：指定点壳温(ts)为55℃，85℃和第三个指定温度，三个温度覆盖灯具中led光源的ts温度。

老化时间：6000h，推荐10000h;

2.iec体系

iec体系中用lx fy 来表征led产品的寿命，其中，lx表示光通量维持率，如l70;fy表示失效率，包括缓变失效率by和瞬变失效率cy。例如：l70f50为30000h是指：50%的模块在30000h后的光通维持率在70%以下。

对于普通照明用的白光led产品，iec并不强调对声称的寿命进行验证，而是对限定时间的流明维持率进行分级。

如有led高温寿命老化系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。